Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
JIS H0613:1978
Visual inspection for sliced and lapped silicon wafers
Přeložit název
NORMA vydána dne 5.1.1978
| Jazyk | |
| Provedení |
|
| Dostupnost | SKLADEM |
| Cena | NADOTAZ bez DPH |
| NA DOTAZ |
Informace o normě:
Označení normy: JIS H0613:1978
Datum vydání normy: 5.1.1978
Kód zboží: NS-1078242
Počet stran: 4
Přibližná hmotnost: 12 g (0.03 liber)
Země: Japonská technická norma
Kategorie: Technické normy JIS
Kategorie - podobné normy:
Polovodičové materiály
Ostatní neželezné kovy a jejich slitiny
Doporučujeme:
Aktualizace zákonů
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
