Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
JIS C2162:2010
Test method of long-term reliability of gate insulator for SiC devices at high temperature
Přeložit název
NORMA vydána dne 23.3.2010
| Jazyk | |
| Provedení |
|
| Dostupnost | SKLADEM |
| Cena | NADOTAZ bez DPH |
| NA DOTAZ |
Informace o normě:
Označení normy: JIS C2162:2010
Datum vydání normy: 23.3.2010
Kód zboží: NS-1075015
Počet stran: 9
Přibližná hmotnost: 27 g (0.06 liber)
Země: Japonská technická norma
Kategorie: Technické normy JIS
Kategorie - podobné normy:
Doporučujeme:
