Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Method for the measurement of mass resolution in SIMS
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.4.2022
Označení normy: ISO/TS 22933:2022
Datum vydání normy: 1.4.2022
Kód zboží: NS-1052691
Počet stran: 15
Přibližná hmotnost: 45 g (0.10 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy ISO
Description / Abstract: This document specifies a method for measuring the mass resolution in SIMS, and how to compare the mass resolution between different instruments (e.g. TOF-SIMS, Magnetic SIMS, Quadrupole SIMS, Fourier Transform SIMS, etc.) by considering the peak shapes.
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 16.10.2026 (Počet položek: 2 307 409)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.