Pozor!

Ve Vašem prohlížeči není aktuálně povoleno spouštění Javascriptu. Je možné, že některé funkce nebudou fungovat správně. Pro plnou funkčnost internetového obchodu doporučujeme povolit Javascript. Zde jsou instrukce jak povolit JavaScript ve Vašem webovém prohlížeči.

Zobrazovaná měna: Kč

Zobrazení ceny: bez DPH

ISO 9848:2003-ed.2.0

Photography — Source document microfilms — Determination of ISO speed and ISO average gradient

Automaticky přeložený název:

Fotografování - Zdroj mikrofilmy dokument - Stanovení citlivosti ISO a průměrným stoupáním ISO

NORMA vydána dne 19.11.2003

Jazyk
Provedení	Elektronické PDF - 1 973.10 Kč Tištěné - 1 973.10 Kč
Dostupnost	SKLADEM
Cena	1 973.10 Kč bez DPH
1 973.10 Kč

Informace o normě:

Označení normy: ISO 9848:2003-ed.2.0
Datum vydání normy: 19.11.2003
Kód zboží: NS-437328
Počet stran: 9
Přibližná hmotnost: 27 g (0.06 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy ISO

Tisk

Odeslat známému

Dotaz

Kategorie - podobné normy:

Fotografické papíry, filmy a kazety
Aplikace při zobrazování dokumentů

Anotace textu normy ISO 9848:2003-ed.2.0 :

Description / Abstract: ISO 9848:2003 specifies a method for determining the ISO speed and ISO average gradient of black-and-white camera negative photographic films used for first generation microfilming of source documents at exposure times typically found with tungsten sources. These source documents include any handwritten or printed alphanumeric and line documents such as books, periodicals, business correspondence, and engineering drawings. The value-rating system described in this ISO 9848:2003 is only useful to the consumer if his exposure illumination is from an incandescent tungsten source. It is not intended to include pictorial or continuous tone reproduction, computer output microfilm (COM), reversal processed or direct positive films or other films exposed by non-tungsten sources such as laser or cathode ray tube. The ISO speed and ISO average gradient values obtained by applying this ISO 9848:2003 are intended for practical use in comparing film/process combinations and for computing exposures.