Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ISO 6342:2003-ed.2.0
Micrographics — Aperture cards — Method of measuring thickness of buildup area
Automaticky přeložený název:
Micrographics - clony karty - Metoda měření tloušťky nahromadění plochy
NORMA vydána dne 15.7.2003
Informace o normě:
Označení normy: ISO 6342:2003-ed.2.0
Datum vydání normy: 15.7.2003
Kód zboží: NS-433754
Počet stran: 3
Přibližná hmotnost: 9 g (0.02 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy ISO
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy ISO 6342:2003-ed.2.0 :
Description / Abstract: ISO 6342:2003 specifies a method of measuring the thickness of the buildup area on aperture cards (camera and copy cards) for manufacturing and inspection purposes.
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
