Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Micrographics — Aperture cards — Method of measuring thickness of buildup area
Automaticky přeložený název:
Micrographics - clony karty - Metoda měření tloušťky nahromadění plochy
NORMA vydána dne 15.7.2003
Označení normy: ISO 6342:2003-ed.2.0
Datum vydání normy: 15.7.2003
Kód zboží: NS-433754
Počet stran: 3
Přibližná hmotnost: 9 g (0.02 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy ISO
Description / Abstract: ISO 6342:2003 specifies a method of measuring the thickness of the buildup area on aperture cards (camera and copy cards) for manufacturing and inspection purposes.
Poslední aktualizace: 03.09.2024 (Počet položek: 2 346 077)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.