Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Determination of modulation period of nano-multilayer coatings by low-angle X-ray methods
Přeložit název
NORMA vydána dne 22.7.2022
Označení normy: ISO 24688:2022
Datum vydání normy: 22.7.2022
Kód zboží: NS-1069283
Počet stran: 8
Přibližná hmotnost: 24 g (0.05 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy ISO
Description / Abstract: This document specifies the substrate conditions and testing of the modulation period (including the principles for low-angle X-ray methods, the requirements of the coatings, the requirements for X-ray measuring apparatus, the calibration of apparatus and samples, and the testing conditions and calculation process) of nano-multilayer coatings by low-angle X-ray methods including X-ray reflectivity (XRR) and glancing incident X-ray diffraction (GIXRD).
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 14.08.2026 (Počet položek: 2 293 479)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.