Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ISO 23812:2009
Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials
Automaticky přeložený název:
Surface chemická analýza - Sekundární-ion hmotnostní spektrometrie - metoda pro kalibraci hloubky křemíku pomocí více delta-vrstvy referenční materiály
NORMA vydána dne 8.4.2009
Informace o normě:
Označení normy: ISO 23812:2009
Datum vydání normy: 8.4.2009
Kód zboží: NS-429743
Počet stran: 19
Přibližná hmotnost: 57 g (0.13 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy ISO
Kategorie - podobné normy:
Doporučujeme:
