Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ISO 22493:2014-ed.2.0
Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Vocabulary
Automaticky přeložený název:
Analýza Microbeam - rastrovací elektronové mikroskopie - slovník
NORMA vydána dne 9.4.2014
Informace o normě:
Označení normy: ISO 22493:2014-ed.2.0
Datum vydání normy: 9.4.2014
Kód zboží: NS-429363
Počet stran: 20
Přibližná hmotnost: 60 g (0.13 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy ISO
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy ISO 22493:2014-ed.2.0 :
Description / Abstract: ISO 22493:2014 defines terms used in the practice of scanning electron microscopy (SEM). It covers both general and specific concepts, classified according to their hierarchy in a systematic order, with those terms that have already been defined in ISO 23833 also included, where appropriate. ISO 22493:2014is applicable to all standardization documents relevant to the practice of SEM. In addition, some clauses of ISO 22493:2014 are applicable to documents relevant to related fields (e.g. EPMA, AEM, EDS) for the definition of terms which are relevant to such fields.
Doporučujeme:
