Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Surface chemical analysis — X-ray photoelectron and Auger electron spectrometers — Linearity of intensity scale
Automaticky přeložený název:
Chemická analýza Surface - X-ray fotoelektronových a Auger elektronová spektrometry - Linearita intenzity stupnice
NORMA vydána dne 15.6.2004
Označení normy: ISO 21270:2004
Datum vydání normy: 15.6.2004
Kód zboží: NS-428966
Počet stran: 13
Přibližná hmotnost: 39 g (0.09 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy ISO
Description / Abstract: ISO 21270:2004 specifies two methods for determining the maximum count rate for an acceptable limit of divergence from linearity of the intensity scale of Auger and X-ray photoelectron spectrometers. It also includes methods to correct for intensity non-linearities so that a higher maximum count rate can be employed for those spectrometers for which the relevant correction equations have been shown to be valid.
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 16.06.2026 (Počet položek: 2 283 267)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.