Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Surface chemical analysis — X-ray photoelectron and Auger electron spectrometers — Linearity of intensity scale
Automaticky přeložený název:
Chemická analýza Surface - X-ray fotoelektronových a Auger elektronová spektrometry - Linearita intenzity stupnice
NORMA vydána dne 15.6.2004
Označení normy: ISO 21270:2004
Datum vydání normy: 15.6.2004
Kód zboží: NS-428966
Počet stran: 13
Přibližná hmotnost: 39 g (0.09 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy ISO
Description / Abstract: ISO 21270:2004 specifies two methods for determining the maximum count rate for an acceptable limit of divergence from linearity of the intensity scale of Auger and X-ray photoelectron spectrometers. It also includes methods to correct for intensity non-linearities so that a higher maximum count rate can be employed for those spectrometers for which the relevant correction equations have been shown to be valid.
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
Poslední aktualizace: 07.08.2026 (Počet položek: 2 292 304)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.