Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ISO 20341:2003
Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials
Automaticky přeložený název:
Surface chemická analýza - Sekundární-ion hmotnostní spektrometrie - metoda pro odhad parametrů rozlišení hloubky s více delta-vrstvy referenčních materiálů
NORMA vydána dne 24.7.2003
Informace o normě:
Označení normy: ISO 20341:2003
Datum vydání normy: 24.7.2003
Kód zboží: NS-428644
Počet stran: 5
Přibližná hmotnost: 15 g (0.03 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy ISO
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy ISO 20341:2003 :
Description / Abstract: ISO 20341:2003 specifies procedures for estimating three depth resolution parameters, viz the leading-edge decay length, the trailing-edge decay length and the Gaussian broadening, in SIMS depth profiling using multiple delta-layer reference materials. It is not applicable to delta-layers where the chemical and physical state of the near-surface region, modified by the incident primary ions, is not in the steady state.
Doporučujeme:
