Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ISO 19830:2015
Surface chemical analysis — Electron spectroscopies — Minimum reporting requirements for peak fitting in X-ray photoelectron spectroscopy
Automaticky přeložený název:
Povrchová chemická analýza - Electron spektroskopie - Minimální požadavky na podávání zpráv pro vrcholové montáž v X -ray fotoelektronové spektroskopie
NORMA vydána dne 5.11.2015
Informace o normě:
Označení normy: ISO 19830:2015
Datum vydání normy: 5.11.2015
Kód zboží: NS-620397
Počet stran: 22
Přibližná hmotnost: 66 g (0.15 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy ISO
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy ISO 19830:2015 :
Description / Abstract: ISO 19830:2015 Standard is to define how peak fitting and the results of peak fitting in X-ray photoelectron spectroscopy shall be reported. It is applicable to the fitting of a single spectrum or to a set of related spectra, as might be acquired, for example, during a depth profile measurement. This International Standard provides a list of those parameters which shall be reported if either reproducible peak fitting is to be achieved or a number of spectra are to be fitted and the fitted spectra compared. This International Standard does not provide instructions for peak fitting nor the procedures which should be adopted.
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
