Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
Přeložit název
NORMA vydána dne 11.5.2021
Označení normy: ISO 18114:2021-ed.2.0
Datum vydání normy: 11.5.2021
Kód zboží: NS-1024260
Počet stran: 4
Přibližná hmotnost: 12 g (0.03 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy ISO
Description / Abstract: This document specifies a method of determining relative sensitivity factors (RSFs) for secondary-ion mass spectrometry (SIMS) from ion-implanted reference materials. The method is applicable to specimens in which the matrix is of uniform chemical composition, and in which the peak concentration of the implanted species does not exceed one atomic percent.
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 12.07.2026 (Počet položek: 2 286 472)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.