Norma ISO 17560:2014-ed.2.0 10.9.2014 náhled

ISO 17560:2014-ed.2.0

Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Method for depth profiling of boron in silicon

Automaticky přeložený název:

Surface chemická analýza - Sekundární-ion hmotnostní spektrometrie - Metoda hloubkové profilování boru v křemíku



NORMA vydána dne 10.9.2014


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena1 958.90 bez DPH
1 958.90

Informace o normě:

Označení normy: ISO 17560:2014-ed.2.0
Datum vydání normy: 10.9.2014
Kód zboží: NS-427737
Počet stran: 10
Přibližná hmotnost: 30 g (0.07 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy ISO

Kategorie - podobné normy:

Chemická analýza

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.