Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Method for depth profiling of boron in silicon
Automaticky přeložený název:
Surface chemická analýza - Sekundární-ion hmotnostní spektrometrie - Metoda hloubkové profilování boru v křemíku
NORMA vydána dne 10.9.2014
Označení normy: ISO 17560:2014-ed.2.0
Datum vydání normy: 10.9.2014
Kód zboží: NS-427737
Počet stran: 10
Přibližná hmotnost: 30 g (0.07 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy ISO
Poslední aktualizace: 25.03.2024 (Počet položek: 2 885 931)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.