Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ISO 17470:2014-ed.2.0
Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
Automaticky přeložený název:
Microbeam analýza - sonda Electron microanalysis - Směrnice pro analýzu kvalitativního hlediska vlnové délky disperzní rentgenové spektrometrie
NORMA vydána dne 6.1.2014
Informace o normě:
Označení normy: ISO 17470:2014-ed.2.0
Datum vydání normy: 6.1.2014
Kód zboží: NS-427680
Počet stran: 10
Přibližná hmotnost: 30 g (0.07 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy ISO
Kategorie - podobné normy:
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
