Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ISO 17297:2025
Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary
Přeložit název
NORMA vydána dne 26.5.2025
Informace o normě:
Označení normy: ISO 17297:2025
Datum vydání normy: 26.5.2025
Kód zboží: NS-1222521
Počet stran: 14
Přibližná hmotnost: 42 g (0.09 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy ISO
Kategorie - podobné normy:
Chemická technologie (názvosloví)
Fyzikálně chemické analytické metody
Anotace textu normy ISO 17297:2025 :
Description / Abstract: This document defines the most commonly used terms for transmission electron microscopy (TEM) specimen preparation using focused ion beam (FIB).
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
