Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ISO 16700:2016-ed.2.0
Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Guidelines for calibrating image magnification
Přeložit název
NORMA vydána dne 18.7.2016
Informace o normě:
Označení normy: ISO 16700:2016-ed.2.0
Datum vydání normy: 18.7.2016
Kód zboží: NS-645558
Počet stran: 18
Přibližná hmotnost: 54 g (0.12 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy ISO
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy ISO 16700:2016-ed.2.0 :
Description / Abstract: ISO 16700:2016 specifies a method for calibrating the magnification of images generated by a scanning electron microscope (SEM) using an appropriate reference material. This method is limited to magnifications determined by the available size range of structures in the calibrating reference material. It does not apply to the dedicated critical dimension measurement SEM.
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
