Norma ISO 16700:2016-ed.2.0 18.7.2016 náhled

ISO 16700:2016-ed.2.0

Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Guidelines for calibrating image magnification

Přeložit název

NORMA vydána dne 18.7.2016


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena2 984.90 bez DPH
2 984.90

Informace o normě:

Označení normy: ISO 16700:2016-ed.2.0
Datum vydání normy: 18.7.2016
Kód zboží: NS-645558
Počet stran: 18
Přibližná hmotnost: 54 g (0.12 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy ISO

Kategorie - podobné normy:

Optická zařízení

Anotace textu normy ISO 16700:2016-ed.2.0 :

Description / Abstract: ISO 16700:2016 specifies a method for calibrating the magnification of images generated by a scanning electron microscope (SEM) using an appropriate reference material. This method is limited to magnifications determined by the available size range of structures in the calibrating reference material. It does not apply to the dedicated critical dimension measurement SEM.

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.