Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ISO 14701:2018-ed.2.0
Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Measurement of silicon oxide thickness
Přeložit název
NORMA vydána dne 31.10.2018
Informace o normě:
Označení normy: ISO 14701:2018-ed.2.0
Datum vydání normy: 31.10.2018
Kód zboží: NS-905611
Počet stran: 17
Přibližná hmotnost: 51 g (0.11 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy ISO
Kategorie - podobné normy:
Doporučujeme:
