Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ISO 14606:2022-ed.3.0
Surface chemical analysis — Sputter depth profiling — Optimization using layered systems as reference materials
Přeložit název
NORMA vydána dne 21.11.2022
Informace o normě:
Označení normy: ISO 14606:2022-ed.3.0
Datum vydání normy: 21.11.2022
Kód zboží: NS-1096612
Počet stran: 17
Přibližná hmotnost: 51 g (0.11 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy ISO
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy ISO 14606:2022-ed.3.0 :
Description / Abstract: This document gives guidance and requirements on the optimization of sputter-depth profiling parameters using appropriate single-layered and multilayered reference materials, in order to achieve optimum depth resolution as a function of instrument settings in Auger electron spectroscopy, X-ray photoelectron spectroscopy and secondary ion mass spectrometry. This document is not intended to cover the use of special multilayered systems such as delta doped layers.
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
