Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ISO 14237:2010-ed.2.0
Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials
Automaticky přeložený název:
Surface chemická analýza - Sekundární-ion hmotnostní spektrometrie - Stanovení boru atomové koncentrace v křemíku pomocí jednotně dopovaných materiálů
NORMA vydána dne 9.7.2010
Informace o normě:
Označení normy: ISO 14237:2010-ed.2.0
Datum vydání normy: 9.7.2010
Kód zboží: NS-425290
Počet stran: 19
Přibližná hmotnost: 57 g (0.13 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy ISO
Kategorie - podobné normy:
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
