Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ISO 13095:2014
Surface Chemical Analysis — Atomic force microscopy — Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement
Automaticky přeložený název:
Povrchová Chemická analýza - mikroskopie atomárních sil - Postup pro in situ charakterizaci AFM profilu stopky sonda pro měření nanostruktur
NORMA vydána dne 5.8.2014
Informace o normě:
Označení normy: ISO 13095:2014
Datum vydání normy: 5.8.2014
Kód zboží: NS-424427
Počet stran: 25
Přibližná hmotnost: 75 g (0.17 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy ISO
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy ISO 13095:2014 :
Description / Abstract: ISO 13095:2014 specifies two methods for characterizing the shape of an AFM probe tip, specifically the shank and approximate tip profiles. These methods project the profile of an AFM probe tip onto a given plane, and the characteristics of the probe shank are also projected onto that plane under defined operating conditions. The latter indicates the usefulness of a given probe for depth measurements in narrow trenches and similar profiles. This International Standard is applicable to the probes with radii greater than 5u0, where u0 is the uncertainty of the width of the ridge structure in the reference sample used to characterize the probe.
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
