Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC/IEEE International standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505(TM)
Automaticky přeložený název:
IEC / IEEE Mezinárodní standard pro společnou testovací rozhraní pin mapě konfiguraci s vysokou hustotou, jednovrstvých požadavky elektronika zkoušek využívajících IEEE Std 1505 (TM)
NORMA vydána dne 30.12.2015
Označení normy: IEEE/IEC 63003-2015
Datum vydání normy: 30.12.2015
Kód zboží: NS-623857
Počet stran: 175
Přibližná hmotnost: 556 g (1.23 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE
Adoption Standard - Active.
This standard represents an extension to the IEEE 1505 receiver fixture interface (RFI) standard specification. Particular emphasis is placed on defining within the IEEE 1505 RFI standard a more specific set of performance requirements that employ a common scalable: (a) pin map configuration; (b) specific connector modules; (c) respective contacts; (d) recommended switching implementation; and (e) legacy automatic test equipment (ATE) transitional devices. This is intentionally done to standardize the footprint and assure mechanical and electrical interoperability between past and future automatic test systems (ATS).
ISBN: 978-1-5044-0580-5, 978-1-5044-0603-1
Number of Pages: 175
Product Code: STD20742, STDPD20742
Keywords: ATE, ATS, fixture, ICD, IEEE 1505.1(TM), interface, ITA, mass termination, receiver, scalable, TPS, UUT
Category: Design Automation|Test Instrumentation and Techniques
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 14.11.2025 (Počet položek: 2 243 651)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.