Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE/IEC 62860-2013
IEC/IEEE Test methods for the characterization of organic transistors and materials
Automaticky přeložený název:
IEC / IEEE Zkušební metody pro charakterizaci organických tranzistorů a materiálů
NORMA vydána dne 30.7.2013
Informace o normě:
Označení normy: IEEE/IEC 62860-2013
Datum vydání normy: 30.7.2013
Kód zboží: NS-415168
Počet stran: 28
Přibližná hmotnost: 84 g (0.19 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE
Anotace textu normy IEEE/IEC 62860-2013 :
Adoption Standard - Active.
Recommended methods and standardized reporting practices for electrical characterization of printed and organic transistors are covered. Due to the nature of printed and organic electronics, significant measurement errors can be introduced if the electrical characterization design-of-experiment is not properly addressed. This standard describes the most common sources of measurement error, particularly for high-impedance electrical measurements commonly required for printed and organic transistors. This standard also gives recommended practices in order to minimize and/or characterize the effect of measurement artifacts and other sources of error encountered while measuring printed and organic transistors.
ISBN: 978-0-7381-8685-6, 978-0-7381-8686-3
Number of Pages: 28
Product Code: STD98417, STDPD98417
Keywords: electrical characterization, FET, flexible electronics, high impedance, nanocomposite, nanotechnology, OFET, organic electronics, organic transistor, printed electronics, printing, transistor
Category: Architecture/Parallel and High-Performance Computing
Doporučujeme:
Aktualizace zákonů
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
