Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE/IEC 62860-1-2013
IEC/IEEE Test methods for the characterization of organic transistor-based ring oscillators
Automaticky přeložený název:
IEC / IEEE Zkušební metody pro charakterizaci organických tranzistorový ring oscilátory
NORMA vydána dne 30.7.2013
Informace o normě:
Označení normy: IEEE/IEC 62860-1-2013
Datum vydání normy: 30.7.2013
Kód zboží: NS-415167
Počet stran: 26
Přibližná hmotnost: 78 g (0.17 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE
Anotace textu normy IEEE/IEC 62860-1-2013 :
Adoption Standard - Active.
Recommended methods and standardized reporting practices for electrical
characterization of printed and organic ring oscillators are covered. Due to the nature of printed
and organic circuits, significant measurement errors can be introduced if the electrical
characterization design-of-experiment is not properly addressed. This standard describes the
most common sources of measurement error, particularly for high-impedance electrical
measurements commonly required for printed and organic ring oscillators. This standard also
gives recommended practices in order to minimize and/or characterize the effect of measurement
artifacts and other sources of error encountered while measuring printed and organic ring
oscillators.
ISBN: 978-0-7381-8687-0, 978-0-7381-8688-7
Number of Pages: 26
Product Code: STD98418, STDPD98418
Keywords: electrical characterization, high-impedance printing, organic transistor, printed electronics, ring oscillator
Category: Architecture/Parallel and High-Performance Computing
Doporučujeme:
Aktualizace zákonů
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
