Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE/IEC 62527-2007
IEC 62527 Ed. 1 (IEEE Std 1450.2(TM)-2002): Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for DC Level Specification
Automaticky přeložený název:
IEC 62527 Ed. 1 (IEEE Std 1450,2 (TM) -2002): Standardní pro rozšíření na standardní testovací rozhraní jazyka (Stil) na úroveň DC Specifikace
NORMA vydána dne 9.12.2007
Informace o normě:
Označení normy: IEEE/IEC 62527-2007
Datum vydání normy: 9.12.2007
Kód zboží: NS-415152
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE
Anotace textu normy IEEE/IEC 62527-2007 :
New IEEE Standard - Active.
This standard extends IEEE Std 1450-1999 (STIL) to support the definition of DC levels. STIL language constructs are defined to specify the DC conditions necessary to execute digital vectors on automated test equipment (ATE). STIL language extensions include structures for: (a) specifying the DC conditions for a device under test; (b) specifying DC conditions either globally, by pattern burst, by pattern, or by vector; (c) specifying alternate DC levels; and (d) selecting DC levels and alternate levels within a period, much the same as timed format events.
ISBN: 9-7807-3815-7238
Number of Pages: 44
Product Code: STDSU95742
Keywords: : automated test equipment (ATE), comparator, DC levels, device power supply (DPS), device under test (DUT), driver, driver termination, dynamic load, functional test, parametric measurement unit (PMU), power sequence, slew rate, voltage clamp
Category: Test Instrumentation and Techniques
Doporučujeme:
