Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE/IEC 62525-2007
IEC/IEEE International Standard - Standard Test Interface Language (STIL) for Digital Test Vector Data
Přeložit název
NORMA vydána dne 9.12.2007
Informace o normě:
Označení normy: IEEE/IEC 62525-2007
Datum vydání normy: 9.12.2007
Kód zboží: NS-675379
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE
Anotace textu normy IEEE/IEC 62525-2007 :
New IEEE Standard - Active.
Standard Test Interface Language (STIL) provides an interface between digital test generation
tools and test equipment. A test description language is defined that: (a) facilitates the transfer
of digital test vector data from CAE to ATE environments; (b) specifies pattern, format, and
timing information sufficient to define the application of digital test vectors to a DUT; and (c) supports
the volume of test vector data generated from structured tests.
ISBN: 2-8318-9337-2
Number of Pages: 143
Product Code: STD95740
Keywords: automatic test pattern generator (ATPG), built-in self-test (BIST), computer-aided engineering
(CAE), cyclize, device under test (DUT), digital test vectors, event, functional vectors, pattern, scan vectors, signal, structural vectors, timed event, waveform, waveshape
Category: Test Technology
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
