Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE Standard for Test Methods and Preferred Values for Silicon PN-Junction Clamping Diodes
Přeložit název
NORMA vydána dne 31.10.2019
Označení normy: IEEE C62.59-2019
Datum vydání normy: 31.10.2019
Kód zboží: NS-974480
Počet stran: 41
Přibližná hmotnost: 123 g (0.27 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE
New IEEE Standard - Active.
Supersedes IEEE C62.35-2010 and IEEE C62.35-2010/Cor1-2018. The basic electrical parameters to be met by silicon PN junction voltage clamping components used for the protection of telecommunications equipment or lines from surges are defined in this standard. It is intended that this standard be used for the harmonization of existing or future specifications issued by PN diode surge protective component manufacturers, telecommunication equipment manufacturers, administrations, or network operators.
ISBN: 978-1-5044-6119-1, 978-1-5044-6120-7
Number of Pages: 41
Product Code: STD23860, STDPD23860
Keywords: avalanche breakdown, electrical characteristics, electrical ratings, foldback, forward conduction, IEEE C62.59, overvoltage protection, punch-through, surge protective component (SPC), test methods, Zener breakdown
Category: Surge-Protective Devices
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 27.08.2025 (Počet položek: 2 213 396)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.