Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE C62.35-2010
IEEE Standard Test Methods for Avalanche Junction Semiconductor Surge-Protective Device Components
Automaticky přeložený název:
IEEE Standardní zkušební metody pro Avalanche Junction polovodičových Surge-ochranné prvky Device
NORMA vydána dne 31.8.2010
Informace o normě:
Označení normy: IEEE C62.35-2010
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 31.8.2010
Kód zboží: NS-417567
Počet stran: 26
Přibližná hmotnost: 78 g (0.17 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
