Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE/ANSI N42.31-2003
American National Standard for Measurement Procedures for Resolution and Efficiency of Wide-Bandgap Semiconductor Detectors of Ionizing Radiation
Přeložit název
NORMA vydána dne 20.8.2003
Informace o normě:
Označení normy: IEEE/ANSI N42.31-2003
Datum vydání normy: 20.8.2003
Kód zboží: NS-980851
Počet stran: 40
Přibližná hmotnost: 120 g (0.26 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE
Anotace textu normy IEEE/ANSI N42.31-2003 :
New IEEE Standard - Active.
Standard measurement and test procedures are established for wide-bandgap semiconductor detectors such as cadmium telluride (CdTe), cadmium-zinc-telluride (CdZnTe), and mercuric iodide (HgI2) that can be used at room temperature for the detection and quantitative characterization of gamma-rays, X-rays, and charged particles. Standard terminology and descriptions of the principal features of the detectors are included. Included in this standard is an annex on interfering electromagnetic noise, which is a factor in such measurements.
ISBN: 978-0-7381-3798-8, 978-0-7381-3799-5
Number of Pages: 40
Product Code: STDPD95166, STD95166
Keywords: cadmium telluride, cadmium zinc telluride, CdTe, charged particle, CZT, electron-hole pair, gamma rays, HgI, ionizing radiation, ion pair, MCA, mercuric iodide, multichannel analyzer, semiconductor detector, X-ray
Category: Reactor Instruments and Controls
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
