Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE 300-1988
IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors
Automaticky přeložený název:
IEEE standard Zkušební postupy pro polovodičové nabitých částic Detektory
NORMA vydána dne 29.12.1988
Informace o normě:
Označení normy: IEEE 300-1988
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 29.12.1988
Kód zboží: NS-416270
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE
Doporučujeme:
