Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors (For Ionizing Radiation)
Přeložit název
NORMA vydána dne 30.11.1968
Označení normy: IEEE 300-1969
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 30.11.1968
Kód zboží: NS-936221
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE
Poslední aktualizace: 19.09.2025 (Počet položek: 2 235 321)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.