Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE Test Procedure for Semiconductor Diodes
Automaticky přeložený název:
IEEE Zkušební postup pro polovodičové diody
NORMA vydána dne 20.12.1963
Označení normy: IEEE 256-1963
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 20.12.1963
Kód zboží: NS-625078
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 08.04.2026 (Počet položek: 2 271 105)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.