Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE Test Procedure for Semiconductor Diodes
Automaticky přeložený název:
IEEE Zkušební postup pro polovodičové diody
NORMA vydána dne 20.12.1963
Označení normy: IEEE 256-1963
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 20.12.1963
Kód zboží: NS-625078
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE
Poslední aktualizace: 21.09.2025 (Počet položek: 2 235 431)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.