Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE 1687-2014
IEEE Standard for Access and Control of Instrumentation Embedded within a Semiconductor Device
Automaticky přeložený název:
IEEE standard pro přístup a kontrolu přístrojové Embedded v polovodičové zařízení,
NORMA vydána dne 5.12.2014
Informace o normě:
Označení normy: IEEE 1687-2014
Datum vydání normy: 5.12.2014
Kód zboží: NS-416080
Počet stran: 283
Přibližná hmotnost: 880 g (1.94 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE
Anotace textu normy IEEE 1687-2014 :
New IEEE Standard - Active.
A methodology for accessing instrumentation embedded within a semiconductor device, without defining the instruments or their features themselves, via the IEEE 1149.1(TM) test access port (TAP) and/or other signals, is described in this standard. The elements of the methodology include a hardware architecture for the on-chip network connecting the instruments to the chip pins, a hardware description language to describe this network, and a software language and protocol for communicating with the instruments via this network.
ISBN: 978-0-7381-9416-5, 978-0-7381-9417-2
Number of Pages: 283
Product Code: STD20033, STDPD20033
Keywords: access network, built-in self-test (BIST), boundary scan, debug, design for testability (DFT), embedded instruments, IEEE 1149.1(TM), IEEE 1687(TM), Instrument Connectivity Language (ICL), internal JTAG (IJTAG), Joint Test Action Group (JTAG), on-chip instrumentation, Procedural Description Language (PDL), test, Tool Command Language (Tcl)
Category: Test Technology
Doporučujeme:
