Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE 1620-2008
IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials
Automaticky přeložený název:
IEEE standard pro zkušební metody pro charakterizaci organických tranzistorů a materiálů
NORMA vydána dne 5.12.2008
Informace o normě:
Označení normy: IEEE 1620-2008
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 5.12.2008
Kód zboží: NS-416000
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
