Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505
Přeložit název
NORMA vydána dne 20.8.2019
Označení normy: IEEE 1505.1-2019
Datum vydání normy: 20.8.2019
Kód zboží: NS-969444
Počet stran: 158
Přibližná hmotnost: 505 g (1.11 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE
Revision Standard - Active.
An extension to the IEEE 1505TM receiver fixture interface (RFI) standard specification is provided in this standard. Particular emphasis is placed on defining within the IEEE 1505 RFI standard a more specific set of performance requirements that employ a common scalable: 1) pin map configuration; 2) specific connector modules; 3) respective contacts; 4) recommended switching implementation; and 5) legacy automatic test equipment (ATE) transitional devices. This is intentionally done to standardize the footprint and assure mechanical and electrical interoperability between past and future automatic test systems (ATS).
ISBN: 978-1-5044-5975-4, 978-1-5044-5976-1
Number of Pages: 158
Product Code: STD23757, STDPD23757
Keywords: automatic test equipment (ATE), automatic test systems (ATS), fixture, IEEE 1505.1TM, interconnecting device (ICD), interface, interface test adapter (ITA), mass termination, receiver, scalable, test program set (TPS), unit under test (UUT)
Category: Instrument/Measurement/Testing|Test Instrumentation and Techniques
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
Poslední aktualizace: 28.07.2024 (Počet položek: 2 339 194)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.