Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE 1505.1-2008
IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505
Automaticky přeložený název:
IEEE standard pro Common Interface testovací Pin Mapa konfigurace pro high-density, Single-Tier Electronics Zkušební požadavky Využití IEEE Std 1505
NORMA vydána dne 1.8.2013
Informace o normě:
Označení normy: IEEE 1505.1-2008
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.8.2013
Kód zboží: NS-415872
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE
Doporučujeme:
