Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE 1450-2023
IEEE Standard Test Interface Language (STIL) for Digital Test Vector Data
Přeložit název
NORMA vydána dne 24.4.2024
Informace o normě:
Označení normy: IEEE 1450-2023
Datum vydání normy: 24.4.2024
Kód zboží: NS-1182457
Počet stran: 147
Přibližná hmotnost: 472 g (1.04 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE
Anotace textu normy IEEE 1450-2023 :
Revision Standard - Active.
Standard test interface language (STIL) provides an interface between digital test generation tools and test equipment. A test description language is defined in this standard that: (a) facilitates the transfer of digital test vector data from CAE to ATE environments; (b) specifies pattern, format, and timing information sufficient to define the application of digital test vectors to a DUT; and (c) supports the volume of test vector data generated from structured tests.
ISBN: 979-8-8557-0629-1, 979-8-8557-0630-7
Number of Pages: 147
Product Code: STD26865, STDPD26865
Keywords: automatic test pattern generator, ATPG, BIST, built-in self-test, CAE, computer-aided engineering, cyclize, device under test, digital test vectors, DUT, event, functional vectors, IEEE 1450™, pattern, scan vectors, signal, structural vectors, timed event, waveform, waveshape
Category: Test Technology
Doporučujeme:
