Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE Recommended Practice for Latchup Test Methods for CMOS and BiCMOS Integrated- Circuit Process Characterization
Automaticky přeložený název:
IEEE Doporučená praxe pro Latchup zkušební metody pro CMOS a BiCMOS Integrated- Circuit procesu charakterizace
NORMA vydána dne 13.12.1991
Označení normy: IEEE 1181-1991
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 13.12.1991
Kód zboží: NS-415534
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE
Poskytování aktuálních informací o legislativních předpisech vyhlášených ve Sbírce zákonů od roku 1945.
Aktualizace 2x v měsíci !
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 14.01.2026 (Počet položek: 2 254 595)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.