Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE 1181-1991
IEEE Recommended Practice for Latchup Test Methods for CMOS and BiCMOS Integrated- Circuit Process Characterization
Automaticky přeložený název:
IEEE Doporučená praxe pro Latchup zkušební metody pro CMOS a BiCMOS Integrated- Circuit procesu charakterizace
NORMA vydána dne 13.12.1991
Informace o normě:
Označení normy: IEEE 1181-1991
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 13.12.1991
Kód zboží: NS-415534
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
