Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC/TS 63342-ed.1.0
C-Si photovoltaic (PV) modules - Light and elevated temperature induced degradation (LETID) test - Detection
Přeložit název
NORMA vydána dne 20.7.2022
Informace o normě:
Označení normy: IEC/TS 63342-ed.1.0
Datum vydání normy: 20.7.2022
Kód zboží: NS-1069201
Počet stran: 13
Přibližná hmotnost: 39 g (0.09 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC/TS 63342-ed.1.0 :
IEC TS 63342:2022 is designed to assess the effect of light induced degradation at elevated temperatures (LETID) by application of electrical current at higher temperatures. In this document, only the current injection approach for the detection of LETID is addressed. This document does not address the B-O and Iron Boron (Fe-B) related degradation phenomena, which already occur at room temperatures under the presence of light and on much faster time scales. The proposed test procedure can reveal sample sensitivity to LETID degradation mechanisms, but it does not provide an exact measure of field observable degradation.
Doporučujeme:
