Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC/TS 62916-ed.1.0
Photovoltaic modules - Bypass diode electrostatic discharge susceptibility testing
Přeložit název
NORMA vydána dne 10.4.2017
Informace o normě:
Označení normy: IEC/TS 62916-ed.1.0
Datum vydání normy: 10.4.2017
Kód zboží: NS-680826
Počet stran: 13
Přibližná hmotnost: 39 g (0.09 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC/TS 62916-ed.1.0 :
IEC TS 62916:2017(E) describes a discrete component bypass diode electrostatic discharge (ESD) immunity test and data analysis method. The test method described subjects a bypass diode to a progressive ESD stress test and the analysis method provides a means for analyzing and extrapolating the resulting failures using the two-parameter Weibull distribution function. It is the object of this document to establish a common and reproducible test method for determining diode surge voltage tolerance consistent with an ESD event during the manufacturing, packaging, transportation or installation processes of PV modules.
Doporučujeme:
