Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC/TS 62878-2-4-ed.1.0
Device embedded substrate - Part 2-4: Guidelines - Test element groups (TEG)
Automaticky přeložený název:
Device vložený substrát - Část 2-4: Směrnice - kontrolní prvek skupiny (TEG)
NORMA vydána dne 27.3.2015
Informace o normě:
Označení normy: IEC/TS 62878-2-4-ed.1.0
Datum vydání normy: 27.3.2015
Kód zboží: NS-583707
Počet stran: 75
Přibližná hmotnost: 225 g (0.50 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Tištěné obvody a desky s plošnými spoji
Soustavy elektronických komponentů
Anotace textu normy IEC/TS 62878-2-4-ed.1.0 :
IEC TS 62878-2-4:2015 describes the test element group devices useful when measuring basic properties of device embedded substrates. It is applicable to device embedded substrates fabricated by use of organic base material, which include for example active or passive devices, discrete components formed in the fabrication process of electronic wiring board, and sheet formed components. LIEC TS 62878-2-4:2015 decrit les appareils du groupe delements dessai utiles pour mesurer les proprietes de base des substrats avec appareil(s) integre(s). Il est applicable aux substrats avec appareil(s) integre(s) fabriques a partir de materiaux de base organiques, y compris par exemple les appareils actifs ou passifs, les composants discrets formes lors du processus de fabrication dune carte de cablage electronique, ainsi que les composants de feuilles minces.
Podobné normy:
27.11.2008
29.11.2012
19.12.2001
29.11.2012
21.4.2010
21.4.2010
Doporučujeme:
