Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC/TS 62804-1-ed.1.0
Photovoltaic (PV) modules - Test methods for the detection of potential-induced degradation - Part 1: Crystalline silicon
Automaticky přeložený název:
Fotovoltaické (PV) moduly - Zkušební metody pro detekci potenciálního vyvolané degradace - Část 1 : krystalického křemíku
NORMA vydána dne 6.8.2015
Informace o normě:
Označení normy: IEC/TS 62804-1-ed.1.0
Datum vydání normy: 6.8.2015
Kód zboží: NS-613097
Počet stran: 15
Přibližná hmotnost: 45 g (0.10 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC/TS 62804-1-ed.1.0 :
IEC TS 62804-1:2015(E) defines procedures to test and evaluate the durability of crystalline silicon photovoltaic (PV) modules to the effects of short-term high-voltage stress including potential-induced degradation (PID). Two test methods are defined that do not inherently produce equivalent results. They are given as screening tests; neither test includes all the factors existing in the natural environment that can affect the PID rate. The methods describe how to achieve a constant stress level. The testing in this Technical Specification is designed for crystalline silicon PV modules with one or two glass surfaces, silicon cells having passivating dielectric layers, for degradation mechanisms involving mobile ions influencing the electric field over the silicon semiconductor, or electronically interacting with the silicon semiconductor itself.
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
