Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC/TS 62804-1-1-ed.1.0
Photovoltaic (PV) modules - Test methods for the detection of potential-induced degradation - Part 1-1: Crystalline silicon - Delamination
Přeložit název
NORMA vydána dne 10.1.2020
Informace o normě:
Označení normy: IEC/TS 62804-1-1-ed.1.0
Datum vydání normy: 10.1.2020
Kód zboží: NS-980807
Počet stran: 16
Přibližná hmotnost: 48 g (0.11 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC/TS 62804-1-1-ed.1.0 :
IEC 62804-1-1:2020 defines procedures to test and evaluate for potential-induced degradation-delamination (PID-d) mode in the laminate of crystalline silicon PV modules-principally those with one or two glass faces. This document evaluates delamination attributable to current transfer between ground and the module cell circuit. Elements driving the delamination that this test is designed to actuate include reduced adhesion associated with damp heat exposure, sodium accumulation at interfaces, and cathodic gas evolution in the cell circuit, metallization, and other components within the PV module activated by the voltage potential. The change in power of crystalline silicon PV modules associated with the stress factors applied (the purview of IEC TS 62804-1) is not considered in the scope.
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
