Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC/TS 62607-8-3-ed.1.0
Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 8-3: Nano-enabled metal-oxide interfacial devices - Analogue resistance change and resistance fluctuation: Electrical resistance measurement
Přeložit název
NORMA vydána dne 20.10.2023
Informace o normě:
Označení normy: IEC/TS 62607-8-3-ed.1.0
Datum vydání normy: 20.10.2023
Kód zboží: NS-1157987
Počet stran: 18
Přibližná hmotnost: 54 g (0.12 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC/TS 62607-8-3-ed.1.0 :
IEC TS 62607-8-3:2023 This part of IEC 62607, which is a Technical Specification, specifies a measurement protocol to determine the key control characteristics - analogue resistance change, and - resistance fluctuation for nano-enabled metal-oxide interfacial devices by - electrical resistance measurement. Analogue resistance change as a function of applied voltage pulse is measured in metal-oxide interfacial devices. The linearity in the relationship of the variation of conductance and the pulse number is evaluated using the parameter fitting. The parameter of the resistance fluctuation is simultaneously computed in the fitting process. - This method is applicable for evaluating computing devices composed of the metal-oxide interfacial device, for example, product-sum circuits, which record the learning process as the analogue resistance change.
Doporučujeme:
Aktualizace zákonů
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
