Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-6: Graphene - Strain uniformity: Raman spectroscopy
Přeložit název
NORMA vydána dne 14.10.2021
Označení normy: IEC/TS 62607-6-6-ed.1.0
Datum vydání normy: 14.10.2021
Kód zboží: NS-1041432
Počet stran: 27
Přibližná hmotnost: 81 g (0.18 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
IEC TS 62607-6-6:2021(E) establishes a standardized method to determine the structural key control characteristic • strain uniformity for single-layer graphene by • Raman spectroscopy. The width of the 2D-peak in the Raman spectrum is analysed to calculate the strain uniformity parameter which is a figure of merit to quantify the influence of nano-scale strain variations on the electronic properties of the layer. The classification will help manufacturers to classify their material quality to provide an upper limit of the electronic performance of the characterized graphene, to decide whether or not the graphene material quality is potentially suitable for various applications.
Poslední aktualizace: 03.05.2024 (Počet položek: 2 896 946)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.