Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC/TS 62607-6-26-ed.1.0
Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-26: Graphene-related products - Fracture strain and stress, Young’s modulus, residual strain and residual stress: bulge test
Přeložit název
NORMA vydána dne 10.12.2025
Informace o normě:
Označení normy: IEC/TS 62607-6-26-ed.1.0
Datum vydání normy: 10.12.2025
Kód zboží: NS-1252440
Počet stran: 26
Přibližná hmotnost: 78 g (0.17 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC/TS 62607-6-26-ed.1.0 :
IEC TS 62607-6-26:2025, which is a Technical Specification, establishes a standardized method to determine the mechanical key control characteristics (KCCs) • Youngs modulus (or elastic modulus), • residual strain, • residual stress, and • fracture stress of 2D materials and nanoscale films using the • bulge test. The bulge test is a reliable method where a pressure differential is applied to a freestanding film, and the resulting deformation is measured to derive the mechanical properties. • This method is applicable to a wide range of freestanding 2D materials, such as graphene, and nanometre-thick films with thicknesses typically ranging from 1 nm to several hundred nanometres. • This document ensures the characterization of mechanical properties essential for assessing the structural integrity and performance of materials in applications such as composite additives, flexible electronics, and energy harvesting devices.
Doporučujeme:
Aktualizace zákonů
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
