Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC/TS 62607-6-20-ed.1.0
Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-20: Graphene-based material - Metallic impurity content: Inductively coupled plasma mass spectrometry
Přeložit název
NORMA vydána dne 11.10.2022
Informace o normě:
Označení normy: IEC/TS 62607-6-20-ed.1.0
Datum vydání normy: 11.10.2022
Kód zboží: NS-1092140
Počet stran: 28
Přibližná hmotnost: 84 g (0.19 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC/TS 62607-6-20-ed.1.0 :
IEC TS 62607-6-20:2022 (EN) IEC TS 62607 establishes a standardized method to determine the chemical key control characteristic - metallic impurity content for powders of graphene-based materials by - inductively coupled plasma mass spectrometry (ICP-MS). The metallic impurity content is derived by the signal intensity of measured elements through MS spectrum of ICP-MS. - The method is applicable for powder of graphene and related materials, including bilayer graphene (2LG), trilayer graphene (3LG), few-layer graphene (FLG), reduced graphene oxide (rGO) and graphene oxide (GO). – The typical application area is in the microelectronics industry, e.g. conductive pastes, displays, etc., for manufacturers to guide material design, and for downstream users to select suitable products.
Doporučujeme:
Aktualizace zákonů
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
