Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC/TR 63357-ed.1.0
Semiconductor devices - Standardization roadmap of fault test method for automotive vehicles
Přeložit název
NORMA vydána dne 11.10.2022
Informace o normě:
Označení normy: IEC/TR 63357-ed.1.0
Datum vydání normy: 11.10.2022
Kód zboží: NS-1091998
Počet stran: 14
Přibližná hmotnost: 42 g (0.09 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC/TR 63357-ed.1.0 :
IEC TR 63357:2022(E) describes standardization roadmap of fault test methods for integrated circuits used in automotive vehicles. Since automotive vehicles are exposed in harsh environment such as very low or high temperature, vibration, high frequency signals, etc. Therefore, they are tested for possible faults which can be caused by harsh environment. There are several fault test methods and related issues to be standardized. Semiconductor devices used in automotive vehicles are exposed in harsh environment of very high or very low temperature, vibration, high frequency signals, etc. Therefore, they are tested for possible faults which can be caused by harsh environment Evaluation results following this fault test methods will provide robustness of the semiconductor device.
Doporučujeme:
Aktualizace zákonů
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
