Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Device embedded substrate - Part 2-2: Guidelines - Electrical testing
Automaticky přeložený název:
Přístroj vložený substrát - Část 2-2: Pokyny - elektrické zkušební
NORMA vydána dne 4.12.2015
Označení normy: IEC/TR 62878-2-2-ed.1.0
Datum vydání normy: 4.12.2015
Kód zboží: NS-623041
Počet stran: 29
Přibližná hmotnost: 87 g (0.19 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Tištěné obvody a desky s plošnými spoji
Soustavy elektronických komponentů
IEC TR 62878-2-2:2015 describes the necessary information on electrical testing for device embedded substrate. This includes the interconnection open- and short-circuit tests as well as the device functional test. It also provides guidelines by demonstrating the electrical test for device embedded substrate. LIEC 62878-2-2:2015 decrit les informations necessaires aux essais electriques de substrat avec appareil(s) integre(s). Elle decrit en outre les essais dinterconnexion en circuit ouvert et en court-circuit et lessai fonctionnel de lappareil. Elle fournit egalement des directives de demonstration des essais electriques de substrat avec appareil(s) integre(s).
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 04.04.2025 (Počet položek: 2 194 285)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.