Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Device embedded substrate - Part 2-2: Guidelines - Electrical testing
Automaticky přeložený název:
Přístroj vložený substrát - Část 2-2: Pokyny - elektrické zkušební
NORMA vydána dne 4.12.2015
Označení normy: IEC/TR 62878-2-2-ed.1.0
Datum vydání normy: 4.12.2015
Kód zboží: NS-623041
Počet stran: 29
Přibližná hmotnost: 87 g (0.19 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Tištěné obvody a desky s plošnými spoji
Soustavy elektronických komponentů
IEC TR 62878-2-2:2015 describes the necessary information on electrical testing for device embedded substrate. This includes the interconnection open- and short-circuit tests as well as the device functional test. It also provides guidelines by demonstrating the electrical test for device embedded substrate. LIEC 62878-2-2:2015 decrit les informations necessaires aux essais electriques de substrat avec appareil(s) integre(s). Elle decrit en outre les essais dinterconnexion en circuit ouvert et en court-circuit et lessai fonctionnel de lappareil. Elle fournit egalement des directives de demonstration des essais electriques de substrat avec appareil(s) integre(s).
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 04.09.2024 (Počet položek: 2 346 114)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.