Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC 63616-ed.1.0
Measurement of the conductivity for metal thin films at microwave and millimeter-wave frequencies - Balanced-type circular disk resonator method
Přeložit název
NORMA vydána dne 28.11.2025
Informace o normě:
Označení normy: IEC 63616-ed.1.0
Datum vydání normy: 28.11.2025
Kód zboží: NS-1249245
Počet stran: 26
Přibližná hmotnost: 78 g (0.17 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC 63616-ed.1.0 :
IEC 63616:2025 relates to a conductivity measurement method of thin metal films at microwave and millimeter-wave frequencies. This method has been developed to evaluate the conductivity of a metal foil used for adhering to a substrate or the interfacial conductivity of a metal layer formed on a dielectric substrate. It uses higher-order modes of a balanced-type circular disk resonator and provides broadband conductivity measurements by using a single resonator. LIEC 63616:2025 traite d’une methode de mesurage de la conductivite de films metalliques minces aux hyperfrequences et aux frequences a ondes millimetriques. Cette methode a ete elaboree pour evaluer la conductivite d’une feuille metallique utilisee pour adherer a un substrat ou la conductivite interfaciale d’une couche metallique formee sur un substrat dielectrique. Elle utilise des modes d’ordre superieur d’un resonateur a disque circulaire de type symetrique et permet d’effectuer, a l’aide d’un seul resonateur, des mesurages de conductivite a large bande.
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
