Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC 63287-2-ed.1.0
Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile
Přeložit název
NORMA vydána dne 29.3.2023
Informace o normě:
Označení normy: IEC 63287-2-ed.1.0
Datum vydání normy: 29.3.2023
Kód zboží: NS-1137826
Počet stran: 30
Přibližná hmotnost: 90 g (0.20 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC 63287-2-ed.1.0 :
IEC 63287-2:2023 gives guidelines for the development of reliability qualification plans using the concept of mission profile, based on the environmental conditioning and proposed usage of the product. This document is not intended for military- and space-related applications. L’IEC 63287-2:2023 fournit des lignes directrices pour lelaboration de plans de qualification de la fiabilite a l’aide du concept de profil de mission, sur la base des conditions environnementales et de l’utilisation prevue du produit. Le present document n’est pas destine aux applications militaires et spatiales.
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
Poslední aktualizace: 17.03.2025 (Počet položek: 2 233 075)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.
Cookies
Cookie - Nastavení 
Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.
